由於手持式激光掃描儀ZEISS T-SCAN CS的應用，使得快速、直觀和高度精確的3D掃描在坐標測量技術中進入全新的高度。全麵革新且一體化的設計理念，包括完美匹配的輔助裝置（跟蹤儀、手持式掃描儀和接觸式測頭），為種類繁多的應用提供了最大的靈活性。高性能的軟件平台colin3D能夠在整個測量過程中，始終如一地保持高效並始終堅持以項目為導向的操作過程。

麵向用戶的、人性化的係統設計和易於操作的高效數據采集

ZEISS T-SCAN激光掃描儀的設計完全符合人體工學原理。可根據操作者的需求量身定製，保證了掃描過程直觀、無疲勞感。由於配備了重量輕、結構緊湊的測頭，該係統非常適合於數據捕獲，即使最難以到達的區域也不例外。

優秀的技術特性，例如，針對各種對象的表麵進行高動態範圍內的數據采集，而其所具有的迄今不可見的數據速率可以達到無可比擬的掃描速度並得到精確的測量結果。

ZEISS T-SCAN:用手持式激光掃描儀快速、直觀的捕獲三維數據

手持式測頭進行快速點測量

ZEISS T-POINT接觸測頭快速可靠地測量所選擇的測量點，使其成為在物體區域內進行單點測量的完美解決方案，如（修剪）邊緣和規則的幾何形狀。該裝置可與傳統的測頭一起使用，測頭更換更加簡單、快速。

手持式測頭ZEISS T-POINT - 理想的便攜式坐標測量機， 便於單點測量

動態參考

即使在移動的物體上也能得到高精密的三維數據記錄，通過采用動態參考功能，在惡劣的環境條件下可以獨立執行測量工作，如振動（生產環境中，例如衝壓車間或
加工部件：對移動車門的密封進行測量）。

通用軟件接口

從數據采集到數據處理，至數據比較 - ZEISS T-SCAN係統可以通過眾多直接的實時接口進行控製。因此，可以輕鬆集成到現有的工藝流程中。

ZEISS colin3D軟件支持高效的工作流程

用於不同的測量體積的光學跟蹤係統

從小型到大型的物體 - 係統配置“CS+”和“LV”，為您的個人測量應用提供理想解決方案。

ZEISS T- TRACK CS+“plus”體現的靈活性

ZEISS T-TRACK CS +光學跟蹤係統與所有其他係統組件進行優化匹配，因此開辟了廣泛的測量應用領域。

極高的數據處理速率使測量具有最高的速度，有利於最大限度地減少物體掃描過程的時間。

ZEISS T-TRACK LV大範圍跟蹤儀

通過采用創新型掃描和跟蹤相結合的獨特大範圍測量，您將在光學三維數字化中獲得全新的視角。

現在您可以更快、更容易地記錄大型物體的3D數據-手持式激光掃描儀的高掃描速度和高達35立方米的跟蹤範圍，為您進行有效的測量處理提供最大可能的運動自由。

應用範圍廣泛

質量控製/檢驗

- 比較CAD數據

- 邊界/邊緣提取（鈑金件）

- 與生產有關的檢查

模具和模具製造

- 刀具重建

- 用於生成銑削刀具路徑的掃描數據

- 刀具釋放時的實際3D數據文檔

- 複雜焊接結構的檢驗

- 設置儀表和安裝夾具

快速製造

- 三維數據掃描用於快速成型

逆向工程

- 高度複雜幾何形狀測量的逆向工程

設計

- 設計模型的掃描，用於進一步處理CAD數據、文檔

- 特征線的捕獲

- 基麵（對齊）的快速掃描

複雜組件的動態捕獲，例如裝夾過程

考古學、藝術/曆史文物的掃描

醫療技術應用（動作捕捉等）

ZEISS T-SCAN-技術數據手持式激光掃描儀